1. ชื่อ-สกุล
   นายสายชล พิมพ์มงคล
   Mr.Saichol Pimmongkol

2. ประวัติการศึกษา
   ประกาศนียบัตรวิชาชีพชั้นต้น (ปวช.)
   สาขาวิชาอิเล็กทรอนิกส์
   วิทยาลัยเทคนิคปทุมธานี

   ประกาศนียบัตรวิชาชีพชั้นสูง (ปวส.)
   สาขาอิเล็กทรอนิกส์ วิทยาลัยศรีปทุม

   ปริญญาตรี ประกาศนียบัตรครูเทคนิคชั้นสูง(ปทส.)
   สาขาไฟฟ้า-สื่อสาร สถาบันเทคโนโลยีปทุมวัน
   Project 1 กล่องเป่าชิ้นงานให้แห้ง (DRY BOX)

   กำลังเรียนปรับวุฒิหลักสูตรวิศวกรรมศาสตร์บัณฑิต  (วศ.บ.)
   สาขาวิศวกรรมอิเล็กทรอนิกส์และโทรคมนาคม
   สถาบันเทคโนโลยีปทุมวัน
   Project 2 เครื่องผลิตแค็ปซูลเปือกแข็ง (Hard capsule    Generator)

   ปริญญาโทครุศาสตร์อุตสาหกรรมมหาบัณฑิต (คอม.)
   สาขาเทคโนโลยีทางการศึกษา  
   มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
   หัวข้อวิทยานิพนธ์ที่ทำ การศึกษาแนวโน้มของหลักสูตรครุศาสตร์
   อุตสาหกรรมบัณฑิต สาขาวิชาไฟฟ้าสื่อสาร หลักสูตร 5 ปี
   (A study of Trends in Industrial Education
   Bachelor’sDegree Curriculum, Five-year Program in
   Electrical Communication)

3. ที่อยู่ (ที่บ้าน)
   8/6 ถ.เทศบาล 26 ต.วารินชำราบ อ.วารินชำราบ จ.อุบลราชธานี
   34190

   โทรศัพท์บ้าน 045-323178
   โทรศัพท์เคลื่อนที่ 09-1154086

4. การทำงาน



 ตำแหน่งปัจจุบัน  นายช่างอิเล็กทรอนิกส์
                   ระดับ 5


 ปฏิบัติงานในฐานะ  หัวหน้าฝ่ายสนับสนุนงานวิจัย                      ตั้งแต่ พ.ศ.2545-2548


   สถานที่ทำงาน   ศูนย์เครื่องมือวิจัยวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
                     จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
                     จุฬา ซอย 62 ถนนพญาไท เขตปทุมวัน
                     กรุงเทพฯ 10330

   โทรศัพท์   0-2218-8101,0-2218-8037
   โทรสาร    2188032

   OFFICE   Scientific and Technological Research
                Equipment Centre
                Chulalongkorn University
                Chulalongkorn soi 62 Phaya-Thai Rd.,
                Patumwan, BKK 10330 Thailand

   Tel.    (662) 2188101, 2188037
   Fax.   (662) 2540211, 2188032
   E-mail:psaichol@Chula.ac.th


ภาระงาน

รับผิดชอบในการซ่อมบำรุงรักษาเครื่องมือวิจัย ดังนี้
  1.Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer: JNM-
     A500
  2.Transmission and Scanning Electron Microscope:
     JEM-200CX
  3.Transmission Electron Microscope: JEM-100SX
  4.Scanning Electron Microscope: JSM-35CF
  5.Scanning Electron Microscope: JSM-T220A
  6.Scanning Electron Microscope: JSM-5800
  7.Scanning Electron Microscope: JSM-5410LV
  8.Scanning Electron Microscope: JSM-6400
  9.Spark Emission Spectrometers: SPECTROLAB M7
10.Fourier Transform Infrared Spectrophotometer:
    1760X
11.ออกแบบ สร้างและพัฒนาเครื่องมือขนาดเล็ก
12.ซ่อมบำรุงรักษาเครื่องมือกลและเป่าแก้ว
13.บำรุงรักษาอุปกรณ์ /เครื่องมือที่ใช้สำหรับซ่อมบำรุง
14.ดำเนินงานและปรับปรุงระบบคุณภาพของหน่วยงาน
15.พัฒนาและเผยแพร่ความรู้ผลงานทางวิชาการ

เรียนรู้เทคนิคการซ่อมเครื่องมือ
กับพี่ไหล



การเปลี่ยน Small Fluorescent Screen สำหรับเครื่อง Transmission Electron Microscope

Go to Chapter 2  ขั้นตอนการเปลี่ยน

Introduction

Chapter 1

บทนำ

    กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope) หรือ TEM แหล่งกำเนิดแสงอิเล็กตรอน คือ ปืนยิงอิเล็กตรอน (Electron Gun) ซึ่งเป็นขดลวดทังสเตน มีลักษณะเป็นรูปตัววี เมื่อขดลวดทังสเตนรั้นขึ้นโดยการเพิ่มกระแสไฟฟ้าเข้าไปให้ขดลวด ทำให้อิเล็กตรอนถูกปล่อยออกมาจากขดลวด เนื่องจากอิเล็กตรอนมีขนาดเล็กมาก จึงต้องมีการดูดอากาศออกจากตัวกล้องให้เป็นสุญญากาศ เพื่อป้องกันการรบกวนของลำแสงอิเล็กตรอน และป้องกันการชนกันและการหักเหของมวลอากาศกับลำแสงอิเล็กตรอน โดยแสงที่ใช้เป็นลำแสงอิเล็กตรอนมีขนาดเล็ก ทำให้มีกำลังขยายสูงมาก ลำแสงอิเล็กตรอนมีความยาวคลื่นประมาณ 0.025 อังสตรอม ( ํA ) ( 1 ํA = 10-4 ไมโครเมตร) ดังนั้นจึงทำให้กล้องจุลทรรศน์มีค่า Resolution ประมาณ 0.0004 ไมโครเมตร และมีกำลังขยายถึง 200,000 เท่า หรือมากว่า

    ระบบเลนส์เป็นเลนส์ระบบแม่เหล็กไฟฟ้า (Electromagnetic lens) แทนเลนส์แก้วในกล้องจุลทรรศน์ธรรมดา เลนส์แม่เหล็กไฟฟ้าประกอบด้วยขดลวดพันรอบแท่งเหล็ก เมื่อกระแสไฟฟ้าผ่านเข้าไปทำให้เกิดสนามแม่เหล็กขึ้น สนามแม่เหล็กไฟฟ้าจะทำให้ลำแสงอิเล็กตรอนเข้มข้นขึ้น เพื่อไปตกที่ตัวอย่างวัตถุที่จะศึกษา เลนส์ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนประกอบด้วยเลนส์รวมแสง (Objective) และ Projector lens โดย Projector lens ทำหน้าที่ฉายภาพ จากตัวอย่างที่จะศึกษาลงบนจอภาพ (ทำหน้าที่คล้ายกับ Eyepiece ของกล้องจุลทรรศน์ธรรมดา) จอภาพฉาบด้วยสารเรืองแสงพวกฟอสฟอรัส เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนตกลงบนจอ จะทำให้เกิดเรืองแสงเป็นแสงสีเขียวแกมเหลือง ที่มองเห็นได้ด้วยตาเปล่า ผู้ศึกษาก็สามารถเห็นภาพบนจอได้ และก็สามารถบันทึกภาพนั้นด้วยกล้องถ่ายรูปซึ่งประกอบอยู่กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้

    รังสีจากลำอิเล็กตรอนที่ตกกระทบลงบน Small Fluorescent screen หรือ จอภาพเรืองแสง อย่างต่อเนื่องและเป็นเวลานานๆ จะทำให้ประสิทธิภาพของ Small Fluorescent screen ลดลงหรือเกิดการเสื่อมสภาพลงได้ มีผลต่อความส่องสว่างของ Small Fluorescent screen ทำให้การศึกษาเพื่อดูรายละเอียดของชิ้นตัวอย่างไม่ชัดเจน ถ้าเป็นเช่นนี้สมควรที่จะต้องเปลี่ยน Small Fluorescent screen ตัวใหม่ ในการเปลี่ยน Fluorescent screen มีขั้นตอนดังใน Chapter 2


Back to the introduction

Chapter 2

ขั้นตอนการเปลี่ยน

    ขั้นตอนการเปลี่ยน Small Fluorescent screen

    1. ปล่อยอากาศให้เข้าไปในส่วนของ Camera chamber โดยการเปิดฝา Camera chamber

    2. หลังจากนั้นวาง section disks ทั้ง 2 ตัวลงบน window ซึ่งมีลักษณะเป็นกระจกหนา (เป็นช่องสำหรับมองดูลักษณะของตัวอย่างที่ตกกระทบลงบน Small Fluorescent screen) แล้วค่อยๆ กดให้หน้าสัมผัสของ section disks แนบสนิทกับหน้าสัมผัส window ดังรูปด้านล่าง

                     

          รูปแสดงการยึด section disks เข้ากับ window

    3. ต่อมาใช้มือจับที่ section disks ทั้งสองและยก window ออกมาอย่างระมัดระวัง ดังรูปด้านล่างแล้ววาง window ลงบนพื้นที่เรียบและสะอาด โดยให้ด้านในของ window หงายขึ้น

                     

              รูปแสดงการจับและยก window ออกมา

    4. กดปุ่ม Fluorescent screen ทางด้านขวามือของ Column ให้เอียง ที่ตำแหน่ง 45องศา (ลักษณะของ Small Fluorescent screen ที่ยึดติดกับ Plate จะเป็นแบบเสียบไว้เฉยๆ) ให้ใช้มือจับที่ขอบซ้าย-ขวาของ Small Fluorescent screen ดึง Small Fluorescent screen ขึ้นมาตรงๆ ตามแนวเอียง 45องศา ดังรูปด้านล่าง

                     

       รูปแสดงทิศทางการดึง Small fluorescent screen

    5. นำ Small Fluorescent screen ตัวใหม่เปลี่ยนเข้าไปแทนที่เดิม หลังจากใส่ Small Fluorescent screen เข้าไปแล้วให้ทำการตรวจสอบตำแหน่งการวาง Small Fluorescent screen ถ้าวางไม่ดีหรือตำแหน่งไม่ถูกต้องจะทำให้เข็มของ Screen brightness meter ไม่ขึ้น ดังนั้นต้องวาง Small Fluorescent screen ให้ถูกตำแหน่ง

    6. ก่อนประกอบ window เข้าต้องตรวจสอบว่ามีฝุ่นหรือเศษผงติดที่ O-ring หรือไม่ ซึ่งฝุ่นหรือเศษผงเหล่านี้จะทำให้ระบบสุญญากาศของเครื่องเกิดการรั่วได้ ดังนั้นถ้ามีฝุ่นหรือเศษผงให้ทำความสะอาด O-ring ก่อน แล้วจึงนำ window ประกอบเข้าตามเดิม

    7. หลังจากนั้นปิดฝาของ Camera chamber เครื่องจะทำการดูดอากาศออก เพื่อทำให้เป็นสุญญากาศต่อไป

เอกสารอ้างอิง

JEOL LTD Training center, Service manual: Electron Microscope JEM-100SX, JEM-200CX